SuperViewW微觀3D形貌白光干涉儀可測(cè)各類從超光滑到粗糙,、低反射率到高反射率的物體表面，從納米到微米級(jí)別工件的粗糙度,、平整度,、微觀幾何輪廓、曲率等,。SuperViewW具有測(cè)量精度高,、操作便捷、功能齊全,、測(cè)量參數(shù)涵蓋面廣的優(yōu)點(diǎn),，測(cè)量單個(gè)精細(xì)器件的過(guò)程用時(shí)短，確保了高款率檢測(cè),。白光干涉儀的特殊光源模式,，可以廣泛適用于從光滑到粗糙等各種精細(xì)器件表面的測(cè)量。

產(chǎn)品特點(diǎn)

1,、干涉物鏡

不通倍率的鏡頭,，適應(yīng)于從超光滑到粗糙度各種表面類型的樣品。

2,、雙通道氣浮隔振系統(tǒng)

外接氣源和加壓裝置直接充氣的雙通道氣浮隔振系統(tǒng),，可有效隔離地面?zhèn)鲗?dǎo)的振動(dòng)噪聲。

3、聲波隔振防護(hù)

儀器外殼與內(nèi)部運(yùn)動(dòng)機(jī)構(gòu)采用了分離式設(shè)計(jì),，有效隔離了聲波振動(dòng)的傳導(dǎo),。

4、水平調(diào)整裝置

傾斜調(diào)整旋鈕,，調(diào)整條紋寬度,，提高3D圖像的重建精度。

5,、便攜式操縱桿

采用人體工程學(xué)設(shè)計(jì),，集成了XYZ三軸位移和速度、光源亮度的自動(dòng)控制,，并配有緊急停止按鈕,。

6、真空吸附臺(tái)

專為半導(dǎo)體晶圓片定制的真空吸附臺(tái),，確保樣品在測(cè)量過(guò)程中不受空氣中微弱氣流擾動(dòng)的影像,。

7、3D重建算法

自動(dòng)濾除樣品表面噪點(diǎn),，在硬件系統(tǒng)的配合下,，測(cè)量精度可達(dá)亞納米級(jí)別。

自研3D顯微測(cè)量軟件平臺(tái)Xtremevision Pro

Xtremevision Pro

全自主開發(fā)的第二代顯微3D測(cè)量軟件平臺(tái),，集成了圖像掃描,、3D分析、影像測(cè)量,、自動(dòng)化測(cè)量等四個(gè)大的功能模塊,，能夠適配中圖W系列、VT系列,、WT系列所有3D儀器機(jī)型,，可自主識(shí)別機(jī)型種類，二合一機(jī)型可在白光干涉和共聚焦顯微鏡中做到自動(dòng)切換掃描模式,。

Xtremevision Pro 移植了中圖在影像閃測(cè)領(lǐng)域的成功經(jīng)驗(yàn),，重構(gòu)了顯微影像測(cè)量功能，可針對(duì)微觀平面輪廓尺寸的點(diǎn),、線間的距離,、角度、半徑等參數(shù)進(jìn)行直接測(cè)量和自動(dòng)匹配測(cè)量,。

自動(dòng)化mark點(diǎn)識(shí)別坐標(biāo)定位自動(dòng)化功能

Mark點(diǎn)影像識(shí)別自動(dòng)坐標(biāo)位置校正,，多區(qū)域坐標(biāo)點(diǎn)自動(dòng)定位測(cè)量與分析，可組合式完成粗糙度,、輪廓尺寸的批量自動(dòng)化測(cè)量,。

自動(dòng)拼接功能

支持方形,、圓形,、環(huán)形和螺旋形式的自動(dòng)拼接測(cè)量功能,，配合影像導(dǎo)航功能，可自定義測(cè)量區(qū)域,，支持?jǐn)?shù)千張圖像的無(wú)縫拼接測(cè)量,。

SuperViewW微觀3D形貌白光干涉儀具有的測(cè)量晶圓翹曲度功能，非常適合晶圓,，太陽(yáng)能電池和玻璃面板的翹曲度測(cè)量,，應(yīng)變測(cè)量以及表面形貌測(cè)量。如針對(duì)芯片封裝測(cè)試流程的測(cè)量需求,，SuperViewW1的X/Y方向標(biāo)準(zhǔn)行程為140*100mm,，滿足減薄后晶圓表面大范圍多區(qū)域的粗糙度自動(dòng)化檢測(cè)、鐳射槽深寬尺寸,、鍍膜臺(tái)階高等微納米級(jí)別精度的測(cè)量,。而SuperViewW1-Pro 型號(hào)增大了測(cè)量范圍，可覆蓋8英寸及以下晶圓,，定制版真空吸附盤,，穩(wěn)定固定Wafer；氣浮隔振+殼體分離式設(shè)計(jì),，隔離地面震動(dòng)與噪聲干擾,。

應(yīng)用領(lǐng)域圖片

對(duì)各種產(chǎn)品、部件和材料表面的粗糙度,、波紋度,、面形輪廓、表面缺陷,、磨損情況,、腐蝕情況、孔隙間隙,、臺(tái)階高度,、彎曲變形情況、加工情況等表面形貌特征進(jìn)行測(cè)量和分析,。

部分技術(shù)指標(biāo)

懇請(qǐng)注意：因市場(chǎng)發(fā)展和產(chǎn)品開發(fā)的需要,，本產(chǎn)品資料中有關(guān)內(nèi)容可能會(huì)根據(jù)實(shí)際情況隨時(shí)更新或修改，恕不另行通知,，不便之處敬請(qǐng)諒解,。

如有疑問(wèn)或需要更多詳細(xì)信息，請(qǐng)隨時(shí)聯(lián)系中圖儀器咨詢,。